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我司参加第十八届中国国际光电博览会

发布时间:2016-09-10 来源: 浏览:1911

      我司于9月6日至9日在深圳参加了“第十八届中国国际光电博览会”,参展产品为我公司自主研发生产的6”无应力平面检测干涉仪和2”高效球面检测干涉仪。

我司凭借精湛技术水准和产品的突破性进展:平面绝对检测精度达到 PV=λ/100再次成为同行业中的一大亮点。匠心独运的设计与精准的检测精度吸引了众多中外客商的驻足观看与咨询洽谈。有不少求购商带来了在检测现场遇到的技术难题,经过展会现场的技术指导,众多客户大为满意。 还有很多老客户前来咨询公司新产品。

我司董事长韩森博士受邀在展会中作专题报告,介绍了超光滑平面的绝对检测,全场掌声不断。演讲结束后,在场的其他专家纷纷对演讲内容进行提问,韩森博士就问题进行了一一解答,会场弥漫着十分浓厚的学术氛围。在大会休息期间,意犹未尽的专家学者又聚集在一起,继续讨论关于高精度测量的相关问题。

近年来,慧利仪器系列设备在高精度测量领域取得了长远的发展,成绩斐然,有着一定的品牌积淀。虽然如此,但我们更知道“任重道远”,我们将继续提升技术水准,以更为成熟、专业的态度,理性面对市场需求,生产更多产品服务于广大用户朋友。


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