光学理论及设计 光学检测和诊断技术 关键光学元件加工技术 束线光学设备开发
韩森教授参加了此次会议，并做大会报告“挑战先进光源大科学装置中光学元件精密检测的关键技术问题”，与现场参会的专家学者共同探讨先进光源大科学仪器装置各超精密光滑反射元件的表面面形测量现阶段技术进展及遇到的问题。
苏州慧利仪器有限责任公司具有多年光学干涉检测设备研发经验，致力于超光滑表面面形的面形检测，能够根据用户需求提供各类超高精度的检测解决方案。到目前为止，慧利仪器凭借超高的平面绝对检测工程化技术已实现PV值≤λ/120的面形检测，该方案已被多家光源大科学装置研究院所采纳使用。
