Wolfgang Osten教授做专题报告
张恒研究员做专题报告
本次会议，德国斯图加特大学Wolfgang Osten教授做“Different Approaches for Resolution Enhancement in Optical Micro and Nano Metrology”专题报告，对微观光学测量的优点和缺点以及未来的发展趋势做了全面的阐述；中国计量科学院张恒研究员做“平面度检测技术发展与现状”专题报告，提出了检测数据一致性的重要性，评估了平晶检测技术从等厚、等倾到相移干涉技术的发展趋势，并肯定了慧利仪器在中国计量领域的贡献。
“光学干涉计量技术研讨会”现场
活动伊始，主办单位苏州慧利仪器有限责任公司董事长韩森教授致欢迎辞并做慧利仪器公司和产品简介；接着带领大家参观慧利仪器实验室。
慧利仪器韩森教授做公司简介
慧利仪器市场经理庄锦程做公司产品简介
活动下午，上海理工大学博士生张凌华、SPIE上海理工大学学生分会主席沈宇航同学、副主席杨颖同学分别带来他们在干涉技术领域的学术报告分享。最后，慧利仪器董事长韩森教授宣布会议结束，大家一起合影留念。本次会议是疫情后中德第一次对光学干涉技术进行面对面的深度交流，为参会技术人员提供了难得的学习机会，在大家一致的好评中本次会议落下帷幕，期待下一次研讨会的召开。
张凌华同学带来学术报告分享
沈宇航同学带来学术报告分享
杨颖同学带来学术报告分享
合影
