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“超高精度光学平面度检测仪”获得第45届日内瓦国际发明展特别金奖

发布时间:2017-04-02 来源:慧利 浏览:799

2017年3月29日,第45届日内瓦国际发明展在瑞士日内瓦Palexpo会展中心开幕。公司研发的产品“超高精度光学平面度检测仪”荣获第45届日内瓦国际发明展特别金奖。

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第45届日内瓦国际发明展在瑞士日内瓦举行,日内瓦国际发明展是世界三大发明展之一,它创办于1973年,由世界知识产权组织、瑞士联邦政府等共同举办,是世界上历史最长、规模最大的发明展之一,也是全球发明者重要的展示舞台,是高新技术“产学研”转化的重要国际化平台。

本届日内瓦国际发明展项目主要集中在医药、健康、材料、环保、能源、机械、交通和安全等领域,共有来自40多个国家的725个参展商带来约1000项新发明成果,其中52%来自亚洲,32%来自欧洲,12%来自远东地区。新发明80%来自企业、大学和研究机构,20%为个人发明。中国参展的发明成果97项,参展单位包括清华大学、北京大学、浙江大学、香港理工大学等多所名校。发明展由85位国际专家组成的国际评审团和参观者投票最终评选出获奖项目。

2017年4月3日的中央电视台《新闻联播》和《新闻直播间》节目均对本届发明展予以了报导。

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第45届日内瓦发明展评委会主席与公司参展人员合影


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