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“高精度数字化激光干涉仪关键技术”鉴定会成功召开

发布时间:2019-10-24 来源: 浏览:1744

2019年10月24日,由中国仪器仪表学会组织的“高精度数字化激光干涉仪关键技术”项目鉴定会在上海理工大学成功召开。本项目是由上海理工大学、苏州慧利仪器有限责任公司和苏州维纳仪器有限责任公司共同完成

本次鉴定会,首次由国内外院士和同行专家共同评审,具有高规格、国际化的特点。鉴定委员会专家由中国工程院院士庄松林、中国工程院院士李同保、中国工程院院士姜会林、中国工程院外籍院士和澳大利亚两院院士顾敏、中国计量科学研究院院长方向、上海光学精密机械研究所书记邵建达、德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、英国南安普顿大学教授John Mcbride、深圳大学教授彭翔、德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo组成。

会议由中国工程院院士李同保主持,慧利仪器董事长、上海理工大学教授韩森做项目汇报。

最后,鉴定委员会专家对项目的关键创新点:干涉仪绝对校准、模块化结构设计、特殊回转面和光学透射系统检测给予高度评价。形成鉴定结论:该项目研究成果技术难度大,创新性强,取得了多项自主知识产权,部分产品填补国内空白,总体技术达到了国际先进水平,PV值测量等核心指标及相关技术达到国际领先水平。

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中国仪器仪表学会副理事长吴幼华和主任燕泽程组织会议

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中国工程院院士李同保主持会议

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慧利仪器董事长、上海理工大学教授韩森做项目汇报

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会议合影留念


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