2019年10月25日，由上海理工大学主办，中国工程院信息与电子工程学部、中国计量科学研究院、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、中国测试技术研究院、苏州慧利仪器有限责任公司联合主办，国际光学工程学会上海理工大学学生分会协办的“平面计量国际研讨会”于上海理工大学成功召开。
中国工程院院士庄松林、中国工程院院士李同保、中国工程院外籍院士和澳大利亚两院院士顾敏、上海理工大学教授张大伟、德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、英国南安普顿大学教授John Mcbride、德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo、上海理工大学教授苏州慧利仪器有限责任公司董事长韩森等参会嘉宾共计百余人一同出席了本次研讨会。
本次研讨会的特点是高聚焦和国际化，聚焦计量技术领域最新发展、热点话题、关键挑战等问题，推动计量测试技术发展，促进行业技术交流与合作。
中国工程院院士庄松林致开幕辞
德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret作报告
长春光机所副所长张学军作报告
英国南安普顿大学教授John Mcbride作报告
德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo作报告
俄罗斯应用物理科学研究所博士Dmitry Silin作报告
中国测试技术研究院副所长冉庆作报告
慧利仪器董事长、上海理工大学教授韩森作报告
与会专家讨论交流
与会专家参观超净干涉仪实验室
与会专家参观大口径干涉仪实验室
与会专家合影留念
