平晶是以光波干涉法测量平面度、直线度、研合性以及平行度的计量器具，包括平面平晶、平行平晶和长平晶。平晶是平面度计量中的主要标准量具，在JJG 2019-89《平面度计量器具》国家计量检定系统中具有重要的位置，是检定、校准、测试和量值溯源的主要标准器具。
JJG 28-2019《平晶》检定规程适用于平晶（包括平面平晶、平行平晶和长平晶）的首次检定、后续检定和使用中检查。
检定规程JJG 28经过制定和修订，历次版本发布情况：
• JJG 28-1980《平面平晶》
• JJG 28-1991《平面平晶》
• JJG 28-2000《平晶》
• JJG 28-2019《平晶》
平晶平面度比较测量法有以下三种：
• 相移式等厚干涉测量法：在相移式激光等厚干涉仪上安装，调整标准平晶与被测平晶，产生等厚干涉条纹，驱动标准平晶移动，从而产生多幅干涉图像，对其进行采集、处理和分析，求出平晶工作面的平面度（PV和RMS测量值）。该测量方法首次在JJG 28-2019《平晶》检定规程中引入。
• 十字线绝对测量法：可使用平面等厚干涉仪、平面等倾干涉仪和相移式激光等厚干涉仪进行测量，即三面互检法和四面互检法，经过计算可得到平面平晶上两个垂直截面（即：十字线）上的绝对平面度测量值。
